该系列的 Opticline C 轴类光学测量仪可提供 1 μm 以上量具能力。可以选用不同的配置等级，例如高精度 C 轴或者多传感器，针对您的需求调整性能。Opticline C 轴类光学测量系统具有高灵活性，同时还有高精度和稳定性。

pticline C 轴类光学测量仪系列的亮点

– 测量瞬间完成，非常迅速；测量精密，精度等级达到 μm 级。

– 测量时摄像头双向探测，可探测的工件直径可达 80 mm。

– 光学测量系统具有缩放功能，所以在测量最大直径为140 mm 的工件时，分辨率和质量也丝毫不受损失。

– 头架和尾架的设计特别，工件更换迅速，精度高。

– 工件全自动定位，简单方便。

– 数据传输不仅迅速，而且实时处理。

– 具有自监控功能，既适用于精测室，也适用于生产现场。

– 低维护，强大的测量系统衍生产品和选配项目。

– 触觉触觉系统T3D或TSP，用于测量额外的长度和形状检查功能。

– 具备形状测量能力和旋转测量精度的高精密头架。

– 电脑主机可与设备一体式集成。

– 保证测量结果不受环境负面影响的卷帘门。

– 保证更高柔性以适合更多工件测量的气动夹紧系统。

– 更适合上下料高度并可提供更多存放位置的工作台架。