Zetasizer Ultra 纳米粒度电位仪是用于测量颗粒与分子大小、颗粒电荷和颗粒浓度的系统，在结合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和优点的基础上，增加了多角度动态光散射技术(MADLS®)，是 Zetasizer Advance 系列中最智能和灵活的仪器。

这一旗舰型仪器充分利用了 ZS Xplorer 软件的易用性、高分析速度和数据可靠性等优势，运用多角度动态光散射技术 (MADLS®) ，提供与角度无关的高分辨率粒度测量，并且能够测量颗粒浓度，帮助您更深入地了解样品。

仅限 Zetasizer Ultra 红标版本 (Red Label)

Zetasizer Ultra 纳米粒度电位仪的特点和优点

Zetasizer Ultra 融合了功能强大的 DLS 与 ELS 系统，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子大小。 NIBS 的多用性和灵敏度可适用广泛的浓度范围，而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。

Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 扩展功能可直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量适合于广泛的材料，无需或只需很少稀释，并且使用快捷，这一切使其成为一种理想的筛选技术。  这是 Zetasizer Ultra 的一项功能，甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和类病毒颗粒 (VLP) 等样品。

Zetasizer Ultra 的关键特性和优点包括：

用于高分辨率粒度测量且与角度无关的多角动态光散射法 (MADLS) 可以更深入地展现您的样品粒度分布

动态光散射 (DLS)  用于测量从0.3 nm 到 15 µm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 µm ；取决于样品和样品制备）

电泳光散射 (ELS)  用于测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性

非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围，即使是处理非常浓缩的样品，也能实现高灵敏度

简单的每峰值浓度/滴度测量（仅限红标Red Label版本）

可抛弃型毛细管粒度测量样品池提供了无损、低容量（ 3 L）分析，并且粒度上限范围可达到 15 μm

具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率

以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型

“自适应相关"算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图

通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议

使用静态光散射（90°）测量分子量

软件符合 21 CFR Part 11 法规

滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性

可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响

一系列可抛弃和可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量，其中包括新的低容量可抛弃粒度测量池套件，由于它可以抑制对流，所以既能进行样品量小到 3 L 的粒度测量，也扩展了DLS 测量的粒度上限范围。

产品参数