Epsilon Xline X射线荧光光谱仪的优点

无损在线过程控制 – 无需采样

一系列扫描模式，可持续适应贴片和多通道涂层工艺

通过标准通信协议，可轻松集成到生产过程中

能够测量所有有价值的重要元素，包括铂和铈

能够以出色的精度测量薄层

适应一系列卷筒宽度

机械臂可通过将测量头悬停在生产线上的各个方向来提供优良距离控制

面临燃料电池生产的挑战

铂催化剂占燃料电池总成本的 20% 以上，因此通过均匀分散和一致的分层优化催化剂涂层至关重要。

Epsilon Xline 使高效的操作控制变得简单，帮助您：

最大限度地减少不合格生产

节省贵重的铂金，避免浪费

生产具有成本竞争力的最终产品

Epsilon Xline X射线荧光光谱仪功能

在线全面自动化 ：得益于 Epsilon Xline 的无缝集成功能，可享受 R2R 的连续生产，适用于各种薄膜和涂层应用。

简单且安全 ：与手持式或传统仪器不同，Epsilon Xline 安全且易于使用，并提供高度准确的分析数据。

毕生经验 ： 借鉴 Malvern Panalytical 在元素分析领域长达 70 多年的 宝贵经验，与我们的行业合作伙伴合作开发，旨在满足其当前的需求，同时也能共同展望行业的未来。

最大产量 。通过实时监测和无中断实现具有成本竞争力的生产，为您提供所需的直接洞察力和控制力，助力您的运营发挥最大效益。

优良材料效率 。消除不一致，避免浪费贵重材料，并使用我们的行业标准解决方案确保产出高质量产品。

Epsilon Xline 由客户开发和测试，采用高度校准技术，可确保稳定的分析，以获得准确的结果。

经过验证的技术

工艺中的元素分析

X 射线荧光  (XRF) 是一种无损元素分析技术，可在催化膜涂层过程中进行在线监测，无需采集样品，不会造成化学或物理变化。 

由此实现的实时在线分析可以快速优化许多工艺参数和产品属性。

高度可重复、准确测量且维护需求低

Epsilon Xline 和我们的一系列 Epsilon 仪器采用经过验证的强大技术，该技术由最新的激发和探测技术提供支持。设计精良的光路、适合轻元素和重元素的广泛激发功能，加上高灵敏度 SDD 探测器系统，这一切造就了 Epsilon Xline 的强大性能。这些创新共同产生了高度可重复和准确的结果，并且维护需求低。

产品参数