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产品型号:S Neox
更新时间:2025-04-16
厂商性质:代理商
访问量:85
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品牌 | Sensofar | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 电子/电池,包装/造纸/印刷,汽车及零部件 |
优势1 第5代干涉共焦显微镜,更加精准易用
新型 S neox 是sensofar公司开发的第5代干涉共焦显微镜,在性能、功能、效率和设计方面远远优于现有的共聚焦显微镜或白光干涉仪。第5代 S neox 系统的诞生,使得操作更易于使用、直观且更快速。即使是初学者,只需点击一下,即可操作测量,可快速切换共焦、白光干涉和相位差干涉测量模式,满足从粗糙表面到平滑表面测量需求。
优势2 Microdisplay共焦技术,可实现扫描头内无运动部件
SENSOFAR设计的Microdisplay共焦技术(微型程控显示扫描共焦技术),做到了扫描头内无运动部件,解决了共聚焦扫描一直以来的问题---有部件要高速运动,实现了既能高速扫描,又能避免部件运动造成震动影响精度。
优势3 优秀的扫描速度,数据采集速度高达 180帧/秒
新型 S neox作为第5代最新干涉共焦显微镜,通过采用新的智能和优秀的算法以及新型相机(500万像素相机),达到可观的速度。数据采集速度达 180帧/秒。标准测量采集速度比以前快 5 倍。典型三维图片获取时间仅需3秒。
优势4 测量的可追溯性
每一台 S neox 皆为提供准确和可追溯的测量而精心制造。系统使用符合ISO 25178 标准的可追溯标准进行校准,包括:纵向精度、横向尺寸、平面度误差以及偏心度。可一键实现ISO25178和ISO4287粗糙度测量,无需复杂的粗糙度参数设置。
优势5 三合一的3D测量技术(共聚焦、干涉、多焦面叠加)
Sensofar 的三合一3D测量方法—只需点击一次,系统即可切换到适合当前测量任务的最合适技术。在 S neox 传感器头中配置三种3D测量技术:共聚焦测量、干涉测量、Ai 多焦面叠加测量,这些都为系统的多功能性做出了重要贡献,并有助于最大限度地减少数据采集中的噪点。S neox 是所有实验室环境的理想之选,适用范围广泛,适合粗糙,到光滑及超光滑表面3D测量。
优势6 Sensofar最新的共焦技术:连续共聚焦扫描技术
针对一般共聚焦设备扫描速度慢的问题,Sensofar研发了连续共聚焦扫描方式,即保证了扫描精度,提高了图像支架,又将扫描速度提高了3倍。
优势7 Sensofar最新的共焦技术:融合共聚焦测量
SENSOFAR还推出了融合共聚焦扫描模式,将共聚焦和多焦面叠加两种模式的优势结合,实现了可测最大86度的斜率并具有纳米级Z轴精度的三维测量。融合共聚焦能提供更好的测量效果,获取更好的图像质量,同时可获得比共聚焦和多焦面叠加更可靠的数据。
优势8 智能噪音检测—有效提高图像质量,消除噪点
S neox 3D光学轮廓仪使用检测算法(SND) 检测那些不可靠的数据像素。与使用空间平均的其他技术相比,S neox 在不损失横向分辨率的情况下逐像素处理。
优势9 高性能软件分析系统Senso View
Senso View是一种交互式分析工具,2D 和 3D 的交互式视图提供多种缩放、显示和渲染选项。提供一套全面的工具,用于 3D 或2D 测量的初步检查和分析。可以测量关键尺寸、角度、距离、直径,并使用新的注释工具突出显示特征。可实现剖面线上多段高度差测量;可测量剖面线多段高度信息,并实时显示在剖面线测量图上。